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產品類別：X射線鍍層厚度分析儀
產品名稱：臻邁_HITACHI鍍層厚度分析儀X-STRATA920
產品詳情
臻邁_HITACHI鍍層厚度分析儀X-STRATA920
產品概述：
X-Strata920系列X射線熒光測厚儀是一種功能強大的材料涂/鍍層測量儀器，可應用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等領域，為產品質量控制提供準確、快速的分析。
X-Strata920可同時測定最多5層、25種元素。數據統計報告功能允許用戶自定義多媒體分析報告格式，以滿足您特定的分析報告格式要求；如在分析報告中插入數據圖表、測定位置的圖象、CAD文件等。統計功能提供數據平均值、誤差分析、最大值、最小值、數據變動范圍、相對偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK圖、直方圖、X-bar/R圖等多種數據分析模式。
產品性能和標準：
使用廣受推崇的能量色散X射線熒光(EDXRF)技術， X-Strata920可實現如下測試要求：
符合ISO3497標準測試方法：金屬鍍層X射線光譜法測量鍍層厚度。
符合ASTM B568標準測試方法：X射線光譜儀測量鍍層厚度，包括金屬和部分非金屬鍍層。
同時分析25種元素。
| 厚度 | 公差 第一層 | 公差 第二層 | 公差 第三層 |
| ≤20 µin (0.5um) | + 1 µin或更優 | + 2 µin或更優 | + 3 µin或更優 |
| ＞20 µin | + 5%或更優 | + 10%或更優 | + 15%或更優 |
X-Strata920技術規格:
X-Strata920測試結果:
